HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子線損傷の温度依存性三留 正則, 板東 義雄, 倉嶋 敬次, 北見喜三, 北見喜三. 日本電子顕微鏡学会 第56回学術講演会. 2000-05-19.NIMS著者三留 正則板東 義雄倉嶋 敬次Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 01:54:18 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:02:31 +0900
