HOME > 口頭発表 > 書誌詳細μμdiffを用いた歪精密測定(Strain measurement using μμdiffraction on F200)上杉 文彦, 根本 善弘, 竹口 雅樹. 公益社団法人日本顕微鏡学会第76回学術講演会. 2020.NIMS著者上杉 文彦根本 善弘竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2020-10-27 03:00:18 +0900 更新時刻 :2020-10-27 03:00:18 +0900