FIB-SEM/TEM/3DAPによるマルチスケール組織解析
(Multi-scale characterization by FIB-SEM/TEM/3DAP)
マテリアル電子線トモグラフィ研究部会講演会. 2010. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:51:39 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:43:17 +0900