HOME > 口頭発表 > 詳細分析透過電子顕微鏡法によるコールドスプレー金属粒子のガラス基板への付着状態解析(Analysis of the Bonding of Metal Particle to Glass Substrate with Analytical-TEM)著者長谷川 明, 荒木 弘, 黒田 聖治, 榊和彦. 会議名日本顕微鏡学会 第72回学術講演会発表年2016言語Japanese