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軽イオン照射試験片用高精度クリープ試験機の開発
(Development of High Precision Creep Testing System for Light Ion Irradiated Specimens)

山本 徳和, 永川 城正.
日本原子力学会1999年春の年会. 1999年03月22日-1999年03月24日.

NIMS著者


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      作成時刻: 2017-02-14 10:52:55 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:53:20 +0900

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