HOME > 口頭発表 > 書誌詳細光電子ピークの強度と結合エネルギーに与えるX線走査の影響とエッチングクレータの線走査分析(The effect of X-ray scanning on intensity and binding energy of photoelectron peak and the line scanning analysis of an etched c)吉武 道子, 吉原一紘, 吉原一紘. PSA-98. 1998-10-01.NIMS著者吉武 道子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 01:27:23 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:47:59 +0900