STMで入射したバリスティック電子のスピン検出
(Spin detection of ballistic electrons injected from scanning-tunneling-miscroscope)
28th International Conference on the Physics of Semiconductors. 2006.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:45:25 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:39:35 +0900