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Bulk electronic structure in EuNi2X2 (X=Si, P, Ge) investigated by hard X-ray photoemission spectroscopy

K. Mimura, K. Ichiki, H. Anzai, T. Uozumi, E. Matsuyama, H. Sato, Y. Utsumi, 上田 茂典, A. Mitsuda, H. Wada, Y. Taguchi, K. Shimada, H. Namatame, M. Taniguchi.
International Conference on Strongly Correlated Electron Systems. 2014年07月07日-2014年07月11日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-01-08 05:11:52 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:52:47 +0900

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