Surface Analysis of Well-Aligned Carbon Nanotube Films by Positron-Annihilation Induced Auger-Electron Spectroscopy and Coincide
(陽電子消滅励起オージェ電子分光および同時計数ドップラー幅測定によるカーボンナノチューブ配向膜の表面分析)
9th International Workshop on Slow Positron Beam Techniqes for S. 2001年09月16日-2001年09月22日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 11:08:56 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:08:56 +0900