HOME > 口頭発表 > 書誌詳細UHV-TEM/STMによるSi上シリサイドアイランドのその場評価(In-situ characterization of silicide islands on Si substrates using UHv-TEM/STM integrated characterization system)田中 美代子, 竹口 雅樹, CHU Fengmin, 韓明, Zhang Qi, 古屋 一夫. 第6回シリサイド系半導体研究会. 2004. 招待講演NIMS著者田中 美代子竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:37:52 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:16 +0900