斜入射配置における散漫散乱X線プロファイルの測定
(Diffuse Scatter Measurement of Grazing Incidence X-rays)
第32回X線分析討論会. 1996年11月11日-1996年11月12日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:57:30 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:39:12 +0900