TEM Specimen Preparation of Nano-wires Grown on Various Substrates by Integrating Wedge-Polishing with Back-side FIB Milling
1st NIMS conference 2007. 2007年07月11日-2007年07月13日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 10:57:01 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:04:40 +0900