HOME > Presentation > Detail収差補正ローレンツ顕微鏡法による磁気微細構造のサブナノスケールイメージング(Sub-nanoscale imaging of magnetic fine structures using aberration-corrected Lorentz microscopy)長井 拓郎, 木本 浩司, 伊野家浩司, 竹口 雅樹. MI・計測 合同シンポジウム. 2018-03-08.NIMS author(s)NAGAI, TakuroKIMOTO, KojiTAKEGUCHI, MasakiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-12-27 22:14:28 +0900 Updated at: 2018-06-05 14:17:06 +0900