HOME > 口頭発表 > 書誌詳細収差補正ローレンツ顕微鏡法による磁気微細構造のサブナノスケールイメージング(Sub-nanoscale imaging of magnetic fine structures using aberration-corrected Lorentz microscopy)長井 拓郎, 木本 浩司, 伊野家浩司, 竹口 雅樹. MI・計測 合同シンポジウム. 2018.NIMS著者長井 拓郎木本 浩司竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-12-27 22:14:28 +0900 更新時刻 :2018-06-05 14:17:06 +0900