HOME > 口頭発表 > 書誌詳細散乱ベクトル依存EELSによるBi2Se3の誘電応答計測(Dielectric response of Bi2Se3 measured using scattering-vector dependent EELS)吉川 純, 木本 浩司. 日本顕微鏡学会第76回学術講演会. 2020.NIMS著者吉川 純木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2020-12-23 03:00:21 +0900 更新時刻 :2020-12-23 03:00:21 +0900