SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

散乱ベクトル依存EELSによるBi2Se3の誘電応答計測
(Dielectric response of Bi2Se3 measured using scattering-vector dependent EELS)

日本顕微鏡学会第76回学術講演会. 2020.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2020-12-23 03:00:21 +0900 更新時刻 :2020-12-23 03:00:21 +0900

    ▲ページトップへ移動