HOME > 口頭発表 > 書誌詳細セラミックスの低温における電子線異常損傷三留 正則, 板東義雄, 倉嶋 敬次, 北見喜三, 板東義雄, 北見喜三. 日本電子顕微鏡学会関東支部 第25回講演会. 2001-03-17.NIMS著者三留 正則板東 義雄倉嶋 敬次Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:12:22 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:12:39 +0900
