HOME > 口頭発表 > 書誌詳細NbSe2におけるサブeV電子励起のEELS計測(EELS of sub-eV electronic excitation in NbSe₂)斎藤 興也, 吉川 純, 木本 浩司. 日本顕微鏡学会 第82回学術講演会. 2026年05月25日-2026年05月27日.NIMS著者斎藤 興也吉川 純木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2026-05-29 03:06:52 +0900 更新時刻: 2026-05-29 03:06:52 +0900