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電子ビーム誘起蒸着によって創製されたナノ構造電気特性のTEM内その場測定
(Electronic property measurement of nanostructures formed by electron beam induced deposition in TEM)

竹口 雅樹, 下条 雅幸, Renchao CHE, 古屋 一夫.
第66回応用物理学会学術講演会. 2005年09月07日-2005年09月11日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-14 11:18:14 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:26:25 +0900

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