HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子ビーム誘起蒸着によって創製されたナノ構造電気特性のTEM内その場測定(Electronic property measurement of nanostructures formed by electron beam induced deposition in TEM)竹口 雅樹, 下条 雅幸, Renchao CHE, 古屋 一夫. 第66回応用物理学会学術講演会. 2005.NIMS著者竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:18:14 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:26:25 +0900