HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Ag/Ta2O5/Pt素子動作電圧のTa2O5膜厚依存性(Dependence of switching bias of an Ag/Ta2O5/Pt device on its Ta2O5 thickness)棚橋直哉, 重岡祐貴, 鶴岡 徹, 長谷川剛. 応用物理学会秋季学術講演会. 2016.NIMS著者鶴岡 徹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:33:18 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:28:43 +0900