Characterization of Thin Films by Gvazing Incidence X-ray Experiments Using Interference Effect.
(干渉効果を利用した斜入射X線法による薄膜のキャラクタリゼーション.)
Pacific-International Congress on X-ray Analytica. 1991年08月12日-1991年08月16日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:07:48 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:11:41 +0900