HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ドープしたモット絶縁体の電荷不安定性(Charge instabilities of doped Mott insulators)山瀬 博之, Matias Bejas, Andres Greco. 日本物理学会第70回年次大会. 2015年03月21日-2015年03月24日.NIMS著者山瀬 博之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:34:44 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:10:26 +0900