HOME > 口頭発表 > 書誌詳細 Electron Channeling Contrast Imaging: A Powerful Technique to Quantitative Microstructure Characterization in the SEMIvan Gutierrez-Urrutia. 2nd East-Asia Microscopy Conference. 2015.NIMS著者グティエレス ウルティア イヴァンMaterials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:52:01 +0900更新時刻: 2024-04-01 21:18:49 +0900