Temperature-induced valence transition of Eu(Rh0.6Ir0.4)2Si2: Hard x-ray photoemission study

K. Ichiki, 三村功次郎, H. Anzai, T. Uozumi, 佐藤仁, A. Rousuli, 上田茂典, A. Mitsuda, T. Fujimoto, E. Kishida, H. Wada, Y. Taguchi, 島田賢也, 生天目博文, 谷口雅樹.

ICESS-15. 2015年09月28日-2015年10月02日.