Integration of Wedge-Polishing and FIB Milling for the Cross-Sectional TEM Specimen Preparation of Nano-wires Grown on Various Substrates
日本顕微鏡学会第63回学術講演会. 2007年05月20日-2007年05月22日.
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作成時刻: 2017-02-14 11:46:42 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:55:36 +0900