材料表面・薄膜のナノメータースケールの解析のための斜入射X線分光・反射率計の開発
(A Versatile Grazing Incidence X-ray Spectro-reflectometerfor the nm-scale Characterization of Materials Surface and Thin films)
Workshop on Nanometer-Scale Methods in X-ray Technology. 1997年10月06日-1997年10月09日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-18 01:16:17 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:42:23 +0900