Electron holographic study of the effect of contact resistance of connected nanowires on resistivity measurement
5th International Symposium on Atomic Level Characterizations fo. 2005年12月04日-2005年12月09日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 11:53:31 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:53:31 +0900