スピン分解硬X線光電子分光によるバルクと埋もれた界面の電子状態測定
(Bulk and buried interface electronic structures studied by spin-resolved hard X-ray photoemission)
第1回HiSORスピン物性研究会. 2018-03-07. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2018-01-25 22:10:26 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:31 +0900