STEM-ADF像の定量計測による二次元材料の積層構造解析
(Stacking Structure Analysis of Two-dimensional Materials Using Quantitative Annular Dark-Field Imaging)
MI・計測合同シンポジウム. 2018.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2018-02-17 22:04:30 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:17:47 +0900