HOME > Presentation > Detailシンクロトロンガンドルフィカメラの評価と鉱物科学への応用(Evaluation of the X-ray diffraction data obtained by a high-resolution synchrotron Gandolfi camera and the application for the mineralogy)田中 雅彦, 中村智樹, 野口高明, 勝矢良雄, 松下 能孝. 日本鉱物科学会2011年年会. 2011.NIMS author(s)TANAKA, MasahikoMATSUSHITA, YoshitakaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:08:30 +0900Updated at: 2017-07-10 21:10:35 +0900