HOME > 口頭発表 > 書誌詳細収差補正STEMによる局所構造解析の高精度化と収差補正の有効性(Application of Cs-corrector to local crystal structure analysis using ADF-STEM)肖 英紀, 木本 浩司. 日本顕微鏡学会第67回学術講演会. 2011年05月16日-2011年05月18日.NIMS著者木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:03:53 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:04:11 +0900