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収差補正STEMによる局所構造解析の高精度化と収差補正の有効性
(Application of Cs-corrector to local crystal structure analysis using ADF-STEM)

肖 英紀, 木本 浩司.
日本顕微鏡学会第67回学術講演会. 2011年05月16日-2011年05月18日.

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-14 11:03:53 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:04:11 +0900

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