HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ローレンツ電子顕微鏡法による強磁性ナノワイヤのスピン構造解析(Spin structure analysis of ferromagnetic nanowires by Lorentz microscopy)長井 拓郎, 山田浩之, 甲野藤真, 有馬孝尚, 川崎雅司, 木本 浩司, 松井 良夫, 竹口 雅樹, 十倉好紀. 日本顕微鏡学会第65回学術講演会. 2009.NIMS著者長井 拓郎木本 浩司松井 良夫竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:07:43 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:29:26 +0900