SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

口頭発表の表示

著者名冨中 悟史.
タイトルナノ物質の構造解析への挑戦: 高エネルギーX線散乱を用いたアプローチ
(Structural Analysis of Nanomaterials using High-Energy X-ray Scattering)
会議名QST 放射光科学シンポジウム 2019/文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業微細構造 解析プラットフォーム放射光利用研究セミナー(第3回)
発表年2019
言語Japanese
外部での文献参照

▲ページトップへ移動