(Hard X-ray photoemission measurement of the band gap in an epitaxial, semiconducting Cr0.80Al0.20 thin film)
VUVX 2010. 2010年07月11日-2010年07月16日.
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作成時刻: 2017-02-26 20:03:54 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:51:42 +0900