Atomic scale contact studied with a functionalized tip of high-resolution atomic force microscopy
The 19th International Scanning Probe Microscopy Conference. 2017年05月16日-2017年05月19日. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-06-13 22:43:16 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:46:48 +0900