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一次元イオン導電体Na0.8Ti1.2Ga4.8O10単結晶の低温X線回折
(Single-Crystal X-ray Diffraction Analysis of One-Dimensional Ionic Conductor Na0.8Ti1.2Ga4.8O10 at Low-Temperatures)

日本結晶学会平成16年度年会. 2004年11月16日-2004年11月17日.

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    作成時刻: 2017-01-08 03:50:35 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:08:15 +0900

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