HOME > Presentation > Detail収差補正電子顕微鏡による高分解能高感度観察(High-resolution high-sensitivity imaging by aberration-corrected STEM)木本 浩司, 山下 俊介, 越谷 翔悟, 石塚 和夫. 2016年真空・表面科学合同講演会第36回表面科学学術講演会第57回真空. November 29, 2016-December 01, 2016. InvitedNIMS author(s)KIMOTO, KojiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 04:40:06 +0900Updated at: 2024-03-05 11:46:29 +0900