Structural observation of Pd and Pd silicide islands on Si (111) surfaces with UHV-TEM/STM
(Si(111)面上Pd-PdシリサイドアイランドのUHV-TEM/STM 観察)
Eighth Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materia. 2000年11月13日-2000年11月17日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 11:04:11 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:04:11 +0900