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原子間力顕微鏡を用いた分子の機械・電気・化学特性の測定
(Revealing Mechanical, Electronic, and Chemical Properties of Molecules by Ultrahigh-resolution Atomic Force Microscopy)

日本物理学会 第72回年次大会. 2017. 招待講演

NIMS著者


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    作成時刻: 2017-02-19 04:39:44 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:46:43 +0900

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