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硬X線光電子分光によるVO2薄膜のMIT制御メカニズムの解明:Wドープ効果
(Control mechanism of MIT for VO2 thin film investigated by hard x-ray photoemission spectroscopy: W-doping effects)

高見英史, 神吉輝夫, 上田 茂典, 小林 啓介, 田中秀和.
2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会. 2010.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-01-08 04:01:39 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:51:10 +0900

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