HOME > 口頭発表 > 書誌詳細硬X線光電子分光によるVO2薄膜のMIT制御メカニズムの解明:Wドープ効果(Control mechanism of MIT for VO2 thin film investigated by hard x-ray photoemission spectroscopy: W-doping effects)高見英史, 神吉輝夫, 上田 茂典, 小林 啓介, 田中秀和. 2010年秋季 第71回 応用物理学会学術講演会. 2010.NIMS著者上田 茂典Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:01:39 +0900 更新時刻 :2017-07-10 20:51:10 +0900