斜入射Ｘ線反射率/蛍光Ｘ線実験における千渉効果とその薄膜分析への応用
(Interference effect in grazing incidence X-ray reflectivity/fluorescence experiments and its application to thin film analysis)
The 5th workshop on Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectros. 1994年10月17日-1994年10月19日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:42:18 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:30:00 +0900