HOME > 口頭発表 > 書誌詳細強誘電トンネル接合のナノスケール界面キャラクタリゼーション(Nanoscaled characterization of the interface in a ferroelectric tunnel junction)山田浩之, 長井 拓郎, 福地厚, 小林正起, 豊崎喜精, 組頭広志, 澤彰仁. 共用・計測 合同シンポジウム2016. 2016-03-04. 招待講演NIMS著者長井 拓郎Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:36:48 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:46:07 +0900