Impact of Growth Method on Structural and Electronic Properties of Nb:Bi2WO6 Thin Films for pn Junction Applications
31st International Workshop on Oxide Electronics 2025 (IWOE31). 2025年09月28日-2025年10月01日.
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作成時刻: 2026-08-26 03:07:02 +0900 更新時刻: 2026-08-26 03:07:02 +0900