HOME > 口頭発表 > 書誌詳細アモルファスSiO2層に埋め込まれたSiナノ結晶のビジビリティー(Visibility of Si Nanoparticles Embedded in Amorphous SiO2 Matrix)三留 正則. The 16th International Microscopy Congress. 2006.NIMS著者三留 正則Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:34:20 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:35:46 +0900