HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(GeTe)1-x(Sb2Te3)x相変化メモリー材料の硬X線光電子分光法による研究(Phase Change and Electronic Structure of (GeTe)1-x(Sb2Te3)x investigated by hard X-ray photoemission spectroscopy)小林 啓介, 金 正鎮, 池永英司, 上田 茂典, 小畠 雅明, 木船弘一, 松永利之, 児島理恵, 山田 昇. 日本物理学会第64回年次大会. 2009年03月27日-2009年03月30日.NIMS著者上田 茂典Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:05:16 +0900更新時刻: 2018-06-05 12:27:53 +0900