放射光X線回折、オングストロームビーム電子線回折、計算機シミュレーションによるアモルファスSiOの構造解析
(Structture of amorphous SiO revealed by synchrotron x-ray diffractioon, angstrom-beam electron diffraction , and computer simulations)
日本セラミックス協会第29回秋季シンポジウム. 2016年09月07日-2016年09月09日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 03:46:15 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:24:42 +0900