HOME > 口頭発表 > 詳細定量STEM-ADF観察による二次元材料の結晶構造解析(Crystal Structure Analysis of Two-dimensional Materials Using Quantitative Annular Dark-Field Imaging)著者山下 俊介, 木本 浩司. 会議名日本顕微鏡学会第74回学術講演会発表年2018言語Japanese
