Characterization of zinc oxide single crystal for epitaxial wafer applications
(酸化亜鉛ウエファーのエピタキシャル基板としての評価)
2003 MRS fall meeting. 2003年12月01日-2003年12月05日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-09-05 11:25:21 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:25:21 +0900