“soft” probe for electric measurement of 2D and fragile materials
12th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '19. 2019年10月20日-2019年10月25日.
NIMS著者
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作成時刻: 2020-12-22 03:00:22 +0900 更新時刻: 2020-12-22 03:00:22 +0900