シリコン基板上に極性制御した酸化亜鉛薄膜の成長，電子状態および接合特性
(Growth, Electronic States, and Junction Properties of Polarity-Controlled ZnO Thin Films on Silicon Substrates)
IUMRS-ICAM 2017. 2017年08月27日-2017年09月01日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-04-18 22:54:41 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:06:57 +0900