HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子顕微鏡による先端材料の微小領域解析(Material characterization with high spatial resolution using electron microscopy)木本 浩司, 長井 拓郎, 吉川 純, 越谷 翔悟, 山下 俊介. 第56回セラミックス基礎科学討論会. 2018. 招待講演NIMS著者木本 浩司長井 拓郎吉川 純Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-11-30 22:00:20 +0900更新時刻: 2024-03-05 12:20:23 +0900