SAMURAI - NIMS Researchers Database

NIMS材料技術展示会2023 - NIMS Technology Showcase2023 10/11

HOME > 口頭発表 > 詳細

Elements of quantitative ADF imaging for crystallography; quantitative, precise and reproducible methodology

著者木本 浩司, 山下 俊介, 吉川 純, 石塚.
会議名19th International Microscopy Congress
発表年2018
言語Japanese

▲ページトップへ移動